خدمات آزمایشگاهی آزمایشگاه مرکزی شماره ۲

توپوگرافی سطح

پروفایلومتری سطح

میکروسکوپ نیروی اتمی

Atomic Force Microscope: AFM

پردازش سریع دانشکده فیزیک

دانشکده فیزیک

اندازه گیری زاویه تماس قطره مایع بر روی سطح(2)

Contact Angle

اندازه گیری زاویه تماس دینامیک

Rolling, advanced, receding -contact angle

اندازه گیری زاویه تماس قطره آب بر روی سطح(1)

Contact Angle

تعیین مقاومت بر حسب دما(دمای اتاق تا 20 کلوین)

Closed cycle refrigerator

لایه نشانی چرخشی

Spin Coating

میکروسکوپ USB

USB Microscope

میکروسکوپ بازتابی

Reflection Microscope

میکروسکوپ عبوری

Transmission Microscope

کندوپاش DC

DC Sputtering

طیف سنج نوری

لایه نشانی کند و پاش

RF Sputtering

لایه نشانی تبخیر فیزیکی

Physical Vapor Deposition:PVD

اثر هال- رسانا و نیم رسانا

Hall Effect

لایه نشانی چرخشی

Spin Coating

تعیین امپدانس

LCR Meter

کندوپاش DC

DC Sputtering

چیدمان بس پراکندگی نور

Light Multi-scattering

قطبش سنج

Polarimeter

تداخل سنج دقیق

Precision Interfermeter

میکروسکوپ تداخلی

Interference Microscope

پراش سنج فرنل

Fresnel Diffractometer

شکست سنج آبه

Abbe Refractometer

ولتامتری چرخه ای CV

طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی EIS

امپدانس الکتروشیمیایی EIS

فوتولیتوگرافی

طیف سنجی نوری

مشخصه یابی الکتریکی

لایه نشانی تبخیر شیمیایی تقویت شده با پلاسما (PECVD)

لایه نشانی تبخیر شیمیایی(CVD)

برای لایه نشانی نیمه‌هادی های دی‌اکسید تیتانیوم و اکسید روی

لایه نشانی تبخیرفیزیکی(PVD-ST)

برای لایه نشانی اهداف فلزی

توان سنج لیزری

مگنتومتر

AMR